4mat

Bruker D5000

  • Diffractomètres Bragg Brantano XRD
  • Source RX Cu
  • Diffraction de poudres et solides.
  • Domaine minéral, inorganique, organique, métallique, couche mince et polymère.
  • Identification des phases cristallisées (DiffracPlus Evaluation) et quantification par Rietveld (TopasV3)
  • Responsable : Mme T. SEGATO (email : Tiriana.Segato@ulb.be - tel. : 02/650.30.10)